シリコンウェハーの検査、金箔・屏風の美術品撮影、高級車塗布膜の画像検査など、カメラ方式では難しいとされる撮影において、オルソスキャナは威力を発揮します。
結論から言うと、
（1）カメラ方式では原理的に無理。場所による照明ムラが発生する。
　　 拡散照明装置を用意できたとしても、レンズの視線は撮影箇所により角度が付く。中心投影レンズの限界。
（2）高精細イメージスキャナ方式でも厳しい。副走査方向は、均一なライティングが可能となる。
　　 しかし、主走査方向（ラインセンサ長手方向）に、照明ムラが発生する。
（3）オルソスキャナ＝テレセントリック光学系だからこそ可能な光学系。
　　 主走査方向（ラインセンサ方向）、副走査ともに、全域で同一照明条件、同一視線となる。
　　 その結果、均一な金箔面は、均一な濃淡値となる。
　　 結果、シリコン鏡面検査や高級塗装面検査においては、かすかな製造工程上のムラや、キズ、を簡単な画像処理で検出可能となる。
ということになります。もちろんこれは、可視光で成り立つだけでなく、赤外線光源でも成り立ちます。
簡単な原理図で解説していきましょう。

Case-1：高精細デジタルカメラの場合

光軸中心（C)では、照明の鏡面反射（正反射）成分はレンズに来ません。
しかし、ポイントP1,P2では、鏡面反射が起こります。結果、均一な照明ができません。
対策は、光源1，光源2側を全て完全拡散面にすることです。
しかし、レンズが、C,P1,P2のそれぞれで、見込む視線の角度が異なることは回避できないため、 金箔表面の性状の均一な記録は困難となります。
特に、高級塗装膜の検査では、この視線角度の差異が問題となります。

Case-2：高精細イメージスキャナの場合

ラインセンサを使うため、光源の正反射光は、レンズ方向にやってきません。
しかし、ラインセンサの配列方向をみると、先ほどのデジタルカメラと同様に、中心投影レンズを用いているため、 P1,P2にて反射された光が、レンズに届くコースは、光軸中心、Cと比較して、異なる視角、視線方向となります。
結果、金箔表面の性状の均一な記録は困難となります。

Case-3：オルソスキャナの場合（テレセントリック光学系）

こちらも、先ほどと同様に、ラインセンサを使うため、光源の正反射光は、レンズ方向にやってきません。
既存のイメージスキャナ式の高精細撮影装置との違いは、このテレセントリック光学系を採用した点です。
P1,C,P2全ての箇所で、全く同じ視角、視線方向となります。その結果、金箔表面の性状の均一な記録が可能となります。
なにはともあれ『百聞は一見にしかず』です。ぜひオルソスキャナをお試しください。